Mikroskop atomárnych síl pre Ramanov spektrometer Renishaw InVia
- Výzvy a podujatia
- Medzinárodná spolupráca
- Vedecké centrá
- Prístrojové vybavenie TnUAD
- Mikroskopické techniky, charakterizácia mikroštruktúry
- Spektroskopické a difrakčné techniky
- Optický emisný spektrometer
- Atómový absorbčný spektrometer
- Zariadenie na mikrovlnný rozklad vzoriek
- Fluorescenčný spektrometer
- Ramanovský spektrometer
- UV-VIS-NIR spektrometer
- Vláknový spektrometer pre blízku IČ oblasť
- UV-VIS-NIR vláknový spektrometer
- Vlnovo disperzný XRF spektrometer
- Röntgenový difraktometer
- Röntgenový difraktometer na charakterizáciu tenkých vrstiev
- Zariadenie (moduly) na skúmanie fotoluminiscenčných vlastností vzoriek/materiálov
- Zariadenie (modul) na meranie difúznej reflektancie práškových vzoriek
- FTIR spektrometer s FT – Raman modulom
- Rentgenfluorescenčný energodisperzný spektrometer pre meranie tuhých a kvapalných vzoriek
- Analyzátor veľkosti častíc s duálnym rozptylom laserového svetla
- Zariadenia na meranie veľkosti častíc laserovým rozptylom svetla
- Spektrofotometer FLEX6600
- Súbor excitačných pulzných diódových svetelných zdrojov (NanoLED a laserové NanoLED)
- Mikroskop atomárnych síl pre Ramanov spektrometer Renishaw InVia
- Plotter A1-veľkoformát.tlačiareň HP Design JetT770
- Polariskop
- Tepelná úprava a spracovanie vzoriek
- Termická analýza
- Biologické testovanie materiálov
- Povrchové úpravy skla v poloprevádzkových podmienkach
- Additive manufacturing
- Mechanická úprava a príprava vzoriek
- Fyzikálne vlastnosti materiálov
- 3D technológie a CNC
- Povrchové vlastnosti materiálov
- Rôzne
- Terapeutické a diagnostické zariadenia
- Projekty vedecko-výskumnej činnosti
- Habilitačné a inauguračné konania