Konfokálna mikroskopia - Konfokálny mikroskop s možnosťou interferometrických meraní

Funkcia a využitie:Konfokálny mikroskop umožňujúci veľmi rýchle a efektívne 2D a 3D pozorovanie a presné vyhodnotenie povrchov pevných objemových materiálov nepravidelného tvaru, tenkých vrstiev, vlákien, práškov, štruktúr rozličných materiálov, t. j. charakterizácia pripravených tenkých vrstiev z hľadiska ich morfológie a topografie, ako aj základných optických vlastností a meranie hrúbky transparentných funkčných vrstiev interferometrickým meraním.
Technická špecifikácia:mikroskop umožňuje konfokálne 2D a 3D zobrazenie povrchov a umožňovať pozorovanie vzoriek:
o vo svetlom poli (BF, bright field),
o v polarizovanom svetle,
o DIC - diferenciálny interferenčný kontrast,
o tvorbu snímok: 2D zábery povrchov a 2D meranie,
o 3D zábery povrchov a 3D merania,
o skladanie snímok: skladanie viacerých zorných polí s vysokým rozlíšením,
- mikroskop umožňuje pozorovanie vzoriek v rozsahu zväčšení minimálne od 100x do minimálne 40 000 krát alebo vyššie,
- dosahuje laterálne rozlíšenie  260 nm alebo 37 Mpix a rozlíšenie v osi Z  10 nm,
- mikroskop je vybavený zdrojom svetla LED alebo laserovým zdrojom, s možnosťou rozšírenia o ďalšie zdroje s inými vlnovými dĺžkami,
- vybavený revolverovým držiakom objektívov s minimálne 5 pozíciami,
- 4 objektívy so zväčšeniami 10x, 20x, 50x, 100x,
Model:Sensofar Metrology S NEOX
Umiestnenie prístroja:Funglass
Zodpovedný pracovník:Peter Švančárek: peter.svancarek@tnuni.sk
Hradené z projektu:
Operátori:
AIS E-learning Webmail Kontakty Strava Knižnica