Atomic Force Microscope – Mikroskop atómových síl

Funkcia a využitie:Atómový silový mikroskop je prístroj určený na zisťovanie  lokálnych mechanických, termo-mechanických a elektrických vlastností materiálov. Operačné módy pre analýzu vzoriek na vzduchu a/alebo v kvapaline: Kontaktný mód/mikroskopia bočných síl, AC mód/tapping mód s riadením fázy a funkciou Q-control, mikroskopia elektrických síl, mikroskopia povrchového potenciálu, magnetických síl, piezoreakčných síl, zobrazovanie stratového uhla tan δ, silová spektroskopia a mapovanie, nanolitografia, nanomanipulácia. Technika umožní na ploche menšej ako 100 nm x 100 nm lokálny ohrev vzorky sondou na teplotu minimálne 500 oC tak, aby bolo možné skúmať lokálne termo-mechanické vlastnosti vzorky. Systém bude taktiež obsahovať celu pre chladenie a ohrev vzoriek, ktorá umožní programované riadenie teploty vzorky v rozsahu od – 20 oC po 120 oC. Systém musí mať schopnosť mapovania a zachytenia silových kriviek vysokou rýchlosťou (najmenej 300 silových kriviek za sekundu).
Technická špecifikácia:

 

Model:
AIS E-learning Webmail Kontakty Strava Knižnica

 

Odkazy pre rýchly prístup: