| Funkcia a využitie: | Mikroskop atomárnych síl, ktorý umožňuje skúmať elektricky vodivé aj nevodivé vzorky s veľmi vysokým rozlíšením zlomkov nanometrov. Pomocou mikroskopu je možné zisťovať lokálne termo-mechanické, magnetické a elektrické vlastnosti vzoriek na nano-metrickej úrovni. Mikroskop pracuje v kontaktom aj bezkontaktnom režime na zamedzenie poškodenia povrchu citlivých vzoriek (AC mód/tapping mód s riadením fázy a funkciou Q-control, mikroskopia elektrických síl, mikroskopia povrchového potenciálu, magnetických síl, piezoreakčných síl, zobrazovanie stratového uhla tan δ, silová spektroskopia a mapovanie, nanolitografia, nanomanipulácia). Skúmanie vzorky môže prebiehať počas kontrolovaných teplotných režimoch v plynových alebo kvapalných prostrediach. Rovnako je k dispozícií aj celý rad režimov nano-mechanickej charakterizácie visko-elastických vlastností. |
