Atómový silový mikroskop

Funkcia a využitie:
  • Atomic force microscop (AFM) spolu s riadiacim programovým zabezpečením a prostriedkami spracovania AFM – zobrazení je určený na meranie mikro a submikroreliefu povrchov, objektov mikro a nanometrových rozsahov s vysokým rozlíšením.

     
    Oblasti použitia AFM sú fyzika pevných materiálov, tenkovrstvové technológie, nanotechnológie, mikro a nanotribológia, mikroelektronika, optika, výskum precíznej mechaniky, magnetické nahrávanie, vákuová technika atd. AFM môžeme používať tak vo vedeckých ako aj v priemyselných laboratóriách.
Technická špecifikácia:

 Základne parametre AFM NT-206:

o   operačné módy – statický mód  a dynamický mód

o   maximálna snímacia plocha – 20 x 20 x 3 mm 

o   počet snímaných bodov  – 1024 x 1024 bodov

o   snímacia rýchlosť – 10 mm/s

o   maximálna veľkosť snímanej vzorky – 30 x 30 x 8 mm

o   maximálny možný posuv  v rovine x-y – 10 x 10 mm

o   zorné pole video systému – 1 x 0,75 mm

o   pracovné prostredie – vzduch

o   napájanie – 220v, 50 Hz

o   celkové rozmery – skenovací blok  –185 x 185 x 290 mm, elektronické zariadenie –470 x 210 x 195 mm

 
hmotnosť zariasenia – skenovací blok  – 4,7 kg, elektronické zariadenie – 7,7 kg
Model:AFM NT – 206
Umiestnenie prístroja:FPT TnUAD v Púchove  – laboratórium atómovej mikroskopie
Zodpovedný pracovník:

 

 

Ing. Dana Bakošová, PhD.

e-mail: dana.bakosova@fpt.tnuni.sk

tel.: +421  42 2851869, +421 32 7400 869

 
 
Operátori: Ing. Jana Pagáčová, PhD.
AIS E-learning Webmail Kontakty Strava Knižnica

 

Odkazy pre rýchly prístup: